Двойное оплодотворение у цветковых растений: Оплодотворение - это процесс слияния мужской и женской половых клеток с образованием зиготы...
Особенности сооружения опор в сложных условиях: Сооружение ВЛ в районах с суровыми климатическими и тяжелыми геологическими условиями...
Топ:
Комплексной системы оценки состояния охраны труда на производственном объекте (КСОТ-П): Цели и задачи Комплексной системы оценки состояния охраны труда и определению факторов рисков по охране труда...
Выпускная квалификационная работа: Основная часть ВКР, как правило, состоит из двух-трех глав, каждая из которых, в свою очередь...
Эволюция кровеносной системы позвоночных животных: Биологическая эволюция – необратимый процесс исторического развития живой природы...
Интересное:
Отражение на счетах бухгалтерского учета процесса приобретения: Процесс заготовления представляет систему экономических событий, включающих приобретение организацией у поставщиков сырья...
Распространение рака на другие отдаленные от желудка органы: Характерных симптомов рака желудка не существует. Выраженные симптомы появляются, когда опухоль...
Искусственное повышение поверхности территории: Варианты искусственного повышения поверхности территории необходимо выбирать на основе анализа следующих характеристик защищаемой территории...
Дисциплины:
2017-11-17 | 310 |
5.00
из
|
Заказать работу |
|
|
Важную роль в теории дифракции на кристалле как рентгеновских, так и электронных волн играет понятие обратной решетки.
В курсе «Кристаллография» понятие обратной решетки формализовано и вводится через векторы элементарных трансляций a, b, c прямой решетки [1].
, , ,
где V = (a [ dc ]) – объем параллепипеда, построенного на этих трансляциях.
Вектора a *, b *, c * называются базисными векторами обратной решетки в отличие от базисных векторов a, b, c прямой решетки.
Построив на векторах a *, b *, c * с общим началом координат (000) множество векторов вида:
,
где h, k, l – целые числа, получим решетку, которую называют обратной. H hkl – вектор обратной решетки, hkl - узлы обратной решетки, (000) – начальный узел обратной решетки.
Между прямой и обратной решетками можно установить следующие соответствия:
1. (aa *) = (bb *) = (cc *) = 1
2. произведения типа (a * b) = (a * с) = (ab *)= (ac *) = (bc *) = (b * c) = 0 что означает, что разноименные векторы прямой и обратной решетки взаимно перпендикулярны.
3. Объем элементарной ячейки равен смешанному произведению осевых векторов.
(a [ bc ]) = V, учитывая положение 1, получим
; , , , ,
4. Вектор обратной решетки перпендикулярен к плоскости (hkl) прямой решетки и по своей абсолютной величине обратно пропорционален межплоскостному расстоянию dhkl.
В дифракционных методах исследования понятие обратной решетки приобретает вполне конкретный физический смысл. В своей монографии «Структурная электронография» [2] Б.К. Вайнтшейн, рассматривая рассеяние коротковолнового излучения на трехмерном периодическом объекте, каким является кристалл, показывает, что распределение точек, в которых амплитуда рассеяния отлична от 0 и принимает значения Фhkl периодично в обратном пространстве и образует обратную решетку.
|
Это выражение для структурной амплитуды, определяющей рассеяние одной элементарной ячейкой кристалла. j(r) – распределение рассеивающей материи внутри ячейки. Каждая точка обратной решетки узел hkl – характеризуется вектором обратной решетки,
,
имеющим начало в узле (000), где S = k - k 0; k и k 0 соответственно единичные волновые вектора рассеянной и падающей волн.
Условие дифракции от кристалла заключается в соотношении:
откуда .
Это соотношение определяет возможные направления k дифрагируемых кристаллом волн, а его геометрическая интерпретация реализуется с помощью сферы отражения (сферы Эвальда) и обратной решетки.
При фиксированном значении k o возникают лишь те дифрагированные лучи, которые соответствуют пересечению узлов обратной решетки сферой отражения. Поскольку радиус сферы отражения относительно обратной решетки равен 1/l.
На рис. 1 представлена геометрическая интерпретация условия дифракции в свете обратной решетки и сферы отражения для рентгеновских лучей, когда последняя имеет заметную кривизну.
Рис.1.
В электронографии, учитывая, что длина волны на два порядка меньше длин волн рентгеновских лучей, радиус сферы отражения велик и с достаточной степенью точности участок сферы отражения, соответствующий малому интервалу углов Вульфа-Брэгга можно считать плоским (рис. 1).
Таким образом, электронограмма является плоским сечением обратной решетки, проведенным через начальный узел (000) перпендикулярно падающему пучку в определенном масштабе.
Это определение применимо для всех типов электронограмм и существенно упрощает рассмотрение их геометрии.
|
|
История создания датчика движения: Первый прибор для обнаружения движения был изобретен немецким физиком Генрихом Герцем...
Кормораздатчик мобильный электрифицированный: схема и процесс работы устройства...
Поперечные профили набережных и береговой полосы: На городских территориях берегоукрепление проектируют с учетом технических и экономических требований, но особое значение придают эстетическим...
Общие условия выбора системы дренажа: Система дренажа выбирается в зависимости от характера защищаемого...
© cyberpedia.su 2017-2024 - Не является автором материалов. Исключительное право сохранено за автором текста.
Если вы не хотите, чтобы данный материал был у нас на сайте, перейдите по ссылке: Нарушение авторских прав. Мы поможем в написании вашей работы!